工学 >>> 电子科学与技术 >>> 半导体技术 >>> 半导体测试技术 >>>
搜索结果: 1-2 共查到“半导体测试技术 态”相关记录2条 . 查询时间(0.273 秒)
上海交通大学工程力学系动态测试与分析技术课件第8章 实验模态分析初步(2)。
本文建议用耗尽的线性扫描电压扫描MOS电容样品。扫描开始前MOS电容被置于强反型态,以消除表面产生的影响。根据扫描所得的电容-时间瞬态曲线,可确定样品中少于产生寿命。实验表明,对于同一个MOS电容样品,不同电压扫描率下得到的结果有很好的一致性,且与饱和电容法的结果相符合。

中国研究生教育排行榜-条

正在加载...

中国学术期刊排行榜-条

正在加载...

世界大学科研机构排行榜-条

正在加载...

中国大学排行榜-条

正在加载...

人　物-篇

正在加载...

课　件-篇

正在加载...

视听资料-篇

正在加载...

研招资料 -篇

正在加载...

知识要闻-篇

正在加载...

国际动态-篇

正在加载...

会议中心-篇

正在加载...

学术指南-篇

正在加载...

学术站点-篇

正在加载...